|
| สถานที่กำเนิด: | ซีอาน, ชานซี, จีน |
| ชื่อแบรนด์: | XZH TEST |
| ได้รับการรับรอง: | CE, ISO |
| หมายเลขรุ่น: | เอ็กซ์เอชบีเอ็กซ์1501 |
วิธีการวิเคราะห์การตอบสนองความถี่ของ Xzh สำหรับเครื่องทดสอบการเสียรูปของขดลวดหม้อแปลง
เครื่องทดสอบการเสียรูปของขดลวดหม้อแปลงไฟฟ้าที่ใช้ CAN สามารถวินิจฉัยข้อบกพร่องภายในของหม้อแปลงได้อย่างแม่นยำโดยอิงจากการวัดพารามิเตอร์ลักษณะเฉพาะของขดลวดหม้อแปลงภายใน โดยใช้วิธีการวิเคราะห์การตอบสนองความถี่ (FRA) ที่พัฒนาและปรับปรุงโดยประเทศที่พัฒนาแล้ว| ช่วงการวัดแอมพลิจูด | (-120dB) ถึง (+20 dB) |
| ความแม่นยำในการวัดแอมพลิจูด | 0.1dB |
| อิมพีแดนซ์อินพุตสัญญาณ: | 1MΩ |
| อิมพีแดนซ์เอาต์พุตสัญญาณ | 50Ω |
| แอมพลิจูดเอาต์พุตสัญญาณ | ± 20V |
| เปอร์เซ็นต์การทำซ้ำการทดสอบ | 99.9% |
| ขนาดเครื่องมือวัด | (ยาวxกว้างxสูง) 300X340X120 (มม.) |
| ขนาดกล่องอลูมิเนียมของเครื่องมือ | (ยาวxกว้างxสูง) 310X400X330 (มม.) |
| น้ำหนักรวม | 13 กก. |
| อุณหภูมิในการทำงาน | -10ºC ถึง +40ºC |
| อุณหภูมิในการจัดเก็บ | -20ºC ถึง +70ºC |
| ความชื้นสัมพัทธ์ | <90% ไม่มีการควบแน่น |
คุณสมบัติหลัก
การได้มาและการควบคุมโดยใช้ไมโครโปรเซสเซอร์ความเร็วสูงและบูรณาการสูง
ใช้อินเทอร์เฟซ USB การสื่อสารระหว่างแล็ปท็อปและเครื่องมือ
การสื่อสารระหว่างแล็ปท็อปและเครื่องมือสามารถใช้อินเทอร์เฟซ Bluetooth ไร้สายหรืออินเทอร์เฟซ WIFI ไร้สาย (อุปกรณ์เสริม)
อินเทอร์เฟซ WIFI ไร้สายสามารถใช้งานได้อย่างสะดวกบนคอมพิวเตอร์แท็บเล็ตและสมาร์ทโฟน
ฮาร์ดแวร์ใช้เทคโนโลยีการสแกนความเร็วสูงแบบดิจิทัล DDS (USA) ซึ่งสามารถวินิจฉัยข้อบกพร่องได้อย่างแม่นยำ เช่น การเสียรูปของขดลวด บวม โป่ง ชิฟต์ เอียง การเสียรูปของวงจรลัดระหว่างรอบ และวงจรลัดสัมผัสระหว่างเฟส
การสุ่มตัวอย่าง A/D แบบดูอัลแชนเนล 16 บิตความเร็วสูง (ในการทดสอบภาคสนาม ย้ายตัวเปลี่ยนแท็บ และเส้นโค้งคลื่นแสดงการเปลี่ยนแปลงที่ชัดเจน)
แอมพลิจูดเอาต์พุตสัญญาณถูกปรับโดยซอฟต์แวร์ ค่าสูงสุดของแอมพลิจูดสูงสุดคือ ±10V
คอมพิวเตอร์ คอมพิวเตอร์จะวิเคราะห์ผลการทดสอบโดยอัตโนมัติและสร้างเอกสารอิเล็กทรอนิกส์ (Word)
เครื่องมือมีคุณสมบัติการวัดคู่: การวัดการสแกนความถี่เชิงเส้นและการวัดการสแกนความถี่ส่วน ซึ่งเข้ากันได้กับโหมดการวัดของกลุ่มเทคนิคสองกลุ่มในประเทศจีน
ลักษณะเฉพาะของแอมพลิจูด-ความถี่สอดคล้องกับข้อกำหนดทางเทคนิคระดับชาติเกี่ยวกับเครื่องทดสอบลักษณะเฉพาะของแอมพลิจูด-ความถี่ พิกัด X (ความถี่) มีการจัดทำดัชนีเชิงเส้นและการจัดทำดัชนีแบบลอการิทึม ดังนั้นคุณสามารถพิมพ์เส้นโค้งพร้อมการจัดทำดัชนีเชิงเส้นและการจัดทำดัชนีแบบลอการิทึมได้ ผู้ใช้สามารถเลือกได้ตามความต้องการจริง
ระบบวิเคราะห์ข้อมูลการทดสอบอัตโนมัติ
