|
| สถานที่กำเนิด: | Xi'an, Shaanxi, China |
| ชื่อแบรนด์: | XZH TEST |
| ได้รับการรับรอง: | ISO,CE |
| หมายเลขรุ่น: | เอ็กซ์เอชเอ็มอาร์-2500 |
เครื่องทดสอบความต้านทานความละเอียด (Isolation Resistance Tester) หรือที่รู้จักกันในชื่อ Megohmmeter เครื่องทดสอบความต้านทานความละเอียดความแรงสูง เป็นต้น
| ฟังก์ชันการวัด | ระยะการวัด | ความถูกต้อง | การแก้ไข |
|---|---|---|---|
| ความดันแบบตรงกัน | DC 0.0V ̇ 1000V | ± 1.5% rdg ± 3 dgt | 0.1V |
| ความดัน AC | AC 0.0V ̇ 750V | ± 1.5% rdg ± 3 dgt | 0.1V |
| หน้าที่ | การทดสอบความต้านทานการปิด, การทดสอบแรงดัน, การทดสอบกระแสไฟฟ้าต่อเนื่อง, การทดสอบความจุ |
| เงื่อนไขการอ้างอิง | 23 °C ± 5 °C, < 75% RH |
| ความดันเฉพาะ | 100V, 250V, 500V, 1000V, 2500V, 5000V |
| ระยะความต้านทานต่อความละเอียด | 00.01 MΩ ∙ 10 TΩ ความละเอียด: 0.01 MΩ |
| ความดันเฉพาะ | 250V, 500V, 1000V, 2500V, 5000V, 10 kV |
| ระยะความต้านทานต่อความละเอียด | 0.01 MΩ ∙ 35 TΩ ความละเอียด: 0.01 MΩ |
| ความดันเฉพาะ | 500V, 1000V, 2500V, 5000V, 10 kV, 15 kV |
| ระยะความต้านทานต่อความละเอียด | 00.01 MΩ ̇ 50 TΩ ความละเอียด: 0.01 MΩ |
| ความดันการวัด (V) | ความดันเฉพาะ × (1 ± 10%) |
| ระยะความดันแบบ DC | 0 ∙ 1000 วอลล์ ความละเอียด: 0.1 วอลล์ |
| ระยะความแรงดัน AC | 0.750 วอลล์ ความละเอียด 0.1 วอลล์ |
| กระแสไฟตรง | 0.1 nA ∙ 6 mA ความละเอียด: 0.1 nA |
| ความจุ | 10 nF 50 μF ความละเอียด: 10 nF |
| กระแสไฟฟ้าวงจรสั้น | ≥ 6 mA @ 15 kV |
| การวัดอัตราการดูดซึม (DAR) และดัชนี polarisation (PI) | การสนับสนุน |
| พลังงาน | 12แบตเตอรี่ลิตยูมแบบชาร์จใหม่.6V |
| ไฟหลัง | สนับสนุน ไฟหลังจอสีเทา-ขาวที่ควบคุมได้ เหมาะสําหรับใช้ในสภาพแวดล้อมที่มีแสงสว่างน้อย |
| โหมดการแสดง | จอจอ LCD ขนาดใหญ่มาก 4 หลัก พร้อมแสงเบื้องหลังจอสีเทา-ขาว |
การวัดความต้านทานการปิดใช้เครื่องกําเนิดความตึงเครียดเพื่อผลิตความตึงเครียด (V) ซึ่งถูกนําไปใช้ผ่านตัวต่อสู้ที่กําลังทดสอบ โดยการวัดกระแส (I) ที่ไหลผ่านตัวต่อสู้ค่าความต้านทาน (R) ได้คํานวณโดยใช้สูตร R = V/I.
